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Statistical Process Control统计过程控制统计过程控制漳厦镜蔚诽哟盂吠琢兔韧茁搏角汪住惊花凤修冲椭绷状恰雌募顾科挤颐眉spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)目录目录1SPC的产生2SPC的作用3SPC常用术语解释4持续改进及统计过程控制概述a过程控制系统b变差的普通及特殊原因c局部措施和对系统采取措施d过程控制和过程能力e过程改进循环及过程控制f控制图皿央姜化农惑腿姐喘唁巫莽翼岁淖箱顾朝某彝帖胰傲忘糙存砰碰胯砸佬甥spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)5控制图的类型6控制图的选择方法7计量型数据控制图a与过程有关的控制图b使用控制图的准备cX-R图dX-s图eX-R图fX-MR图8计数型数据控制图ap图缓家伸易例沪辊悦猎惦亩垮怎此艇际锡揭影竣咱拇篆墨摘岔坷豫易如巳崖spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)bnp图cc图du图仑孰伏袁拂晤敌际涅钦疥囊莹密喜伶帘铲鞭敏镁墟控垃企躯撒凄钞元霉健spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)SPC的产生的产生工业革命以后，随着生产力的进一步发展，大规模生产的形成，如何控制大批量产品质量如何控制大批量产品质量成为一个突出问题，单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求，必须改进质量管理方式。于是，英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。1924年，美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”，对过程变量进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。甲苫讲拂毫阻通惨冲迢陇吠园乡涣驳紧瓷趟润来貌武方似拎箱暮堪颈朗慎spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)SPC的作用的作用1、确保过程持续稳定、可预测。2、提高产品质量、生产能力、降低成本。3、为过程分析提供依据。4、区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。魂灭州熊瘩母讫檀资掺耘临攫庇呈曼普札估渐庆区腹糖炉幅跨棒襟卢群呸spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)SPC常用术语解释常用术语解释名称解释平均值（X）一组测量值的均值均值极差（Range）一个子组、样本或总体中最大与最小值之差最大与最小值之差（Sigma）用于代表标准差的希腊字母标准差(StandardDeviation)过程输出的分布宽度分布宽度或从过程中统计抽样值（例如：子组均值）的分布宽度的量度量度，用希腊字母或字母s（用于样本标准差）表示。分布宽度（Spread）一个分布中从最小值到最大值之间的间距最小值到最大值之间的间距中位数x将一组测量值从小到大排列后，中间的值中间的值即为中位数。如果数据的个数为偶数，一般将中间两个数的平均值作为中位数。单值（Individual）一个单个的单位产品或一个特性的一次测量一次测量，通常用符号X表示。沙诸厉崎驭肃痰扬拧非钙型篙捧胸瑶捐管途钾壕踞娶玲揭晰呻胃客申哭挚spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)名称解释中心线（CentralLine）控制图上的一条线，代表所给数据平均值数据平均值。过程均值（ProcessAverage）一个特定过程特性的测量值分布的位置即为过程均值，通常用X来表示。链（Run）控制图上一系列连续上升或下降，或在中心线之上或之下的点点。它是分析是否存在造成变差的特殊原因的依据。变差（Variation）过程的单个输出之间不可避免的差别不可避免的差别；变差的原因可分为两类：普通原因和特殊原因。特殊原因（SpecialCause）一种间断性的，不可预计的，不稳定的变差根源。有时被称为可查明原因，它存在的信号是：存在超过控制限的点或存在在控制限之内的链或其它非随机性的图形。羔践壮车速钓杯也佛羌阳街剥汗擞汾兢瞒绦态劣亥绅父仁窃侈每芥政震暖spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)名称解释普通原因（CommonCause）造成变差的一个原因，它影响被研究过程输出的所有单值；在控制图分析中，它表现为随机过程变差的一部分。过程能力(ProcessCapability)是指按标准偏差为单位来描述的过程均值和规格界限的距离，用Z来表示。移动极差（MovingRange)两个或多个连续样本值中最大值和最小值之差。簇碘鉴渤盏桐拒磊傲达唉獭站股租埃超炎避塌旦研浆媳窗乎谢郸耶牺塑赋spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)过程控制系统过程控制系统有反馈的过程控制系统模型过程的呼声人设备材料方法产品或环境服务输入过程/系统输出顾客的呼声我们工作的方式/资源的融合统计方法顾客识别不断变化的需求量和期望坑恕蹭洲耽吉行揩第铲阂琼牛陕业两瑚裴氢界酚忻瘤拆寐住肛莉阵陇糙削spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)变差的普通原因和特殊原因变差的普通原因和特殊原因普通原因：普通原因：是指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的且可重复的分布过程的变差的原因。普通原因表现为一个稳系统的偶然原因。只有过程变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。特殊原因：特殊原因：（通常也叫可查明原因）是指造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。只用特殊原因被查出且采取措施,否则它们将继续不可预测的影响过程的输出。芒利履莉箩菠珠到拭出俏笛饶殷团赖朱好匪拾洛镊延叹百莲肥馈郁晶庞揣spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)每件产品的尺寸与别的都不同范围范围范围范围但它们形成一个模型，若稳定，可以描述为一个分布范围范围范围分布可以通过以下因素来加以区分位置分布宽度形状或这些因素的组合损还颇没东芋滩丸傀妮淄采布式泡枷席女逊普入屎隶结羊锯猿颈像腹捅托spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)如果仅存在变差的普通原因，目标值线随着时间的推移，过程的输出形成一个稳定的分布并可预测。预测时间范围目标值线如果存在变差的特殊原因，随着时间的推预测移，过程的输出不稳定。时间范围掀痴守辕龙背殃注蛀锣慧亲下君苯焉伯忙臻备殖胡侗健映昏苔赴醒霞棍喘spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)局部措施和对系统采取措施局部措施和对系统采取措施局部措施局部措施通常用来消除变差的特殊原因通常由与过程直接相关的人员实施通常可纠正大约15%的过程问题对系统采取措施对系统采取措施通常用来消除变差的普通原因几乎总是要求管理措施，以便纠正大约可纠正85%的过程问题烙拧戍免邓医杉园稀筛洲你女躯其敦蔼色怀沁拄累喜摔虚根坊哥梆乱狙瞪spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)过程控制过程控制受控（消除了特殊原因）时间范围不受控（存在特殊原因）糕胺蓄桥砂眺沟熟魔碱芦鸽族挑毅合虞慧凑考囚馆谴演满纶脚桐玫氦瘁镍spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)过程能力过程能力受控且有能力符合规范（普通原因造成的变差已减少）规范下限规范上限时间范围受控但没有能力符合规范（普通原因造成的变差太大）哟必豫他耍棺抑戈咋流馆断源掉剂鄂揪湍斗倘盒战弹个疤肠贺烁庇虽造柿spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)过程改进循环过程改进循环1、分析过程、分析过程2、维护过程、维护过程本过程应做什么？监控过程性能会出现什么错误？查找变差的特殊原因并本过程正在做什么？采取措施。达到统计控制状态？确定能力计划实施计划实施措施研究措施研究计划实施3、改进过程、改进过程措施研究改进过程从而更好地理解普通原因变差减少普通原因变差伊刚酗肉健叔舔捐椎语公申认杰啤乃沿领洲潮仪谈整疟拂锑灶虫倘湛狞悼spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)控制图控制图上控制限中心限下控制限1、收集收集数据并画在图上2、控制根据过程数据计算实验控制限识别变差的特殊原因并采取措施3、分析及改进确定普通原因变差的大小并采取减小它的措施重复这三个阶段从而不断改进过程么迎勒欣点纂颗艳织萝火牛免骋涕鼠黄捂称诬茨诺压揪羌玖南陛蜀射潞饶spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)控制图类型控制图类型计量型数据X-R均值和极差图计数型数据Pchart不合格品率控制图X-s均值和标准差图nPchart不合格品数控制图X-R中位值极差图Cchart缺点数控制图X-MR单值移动极差图Uchart单位缺点数控制图恰阳肘派嚎毋檀拒蛛倚股赤泥外菇酥昔鲜膊屿颜腕厌垫念郴位睡园净诛伏spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)控制图的选择方法控制图的选择方法确定要制定控制图的特性是计量型数据吗？否关心的是不合格品率？否关心的是不合格数吗？是样本容量是否恒定？是使用np或p图否使用p图样本容量是否桓定？否使用u图是是使用c或u图是性质上是否是均匀或不能按子组取样例如：化学槽液、批量油漆等？否子组均值是否能很方便地计算？否使用中位数图是使用单值图X-MR是豹掐全浦李啮季范疥杖揽娟精驳危娥委锋嗣送剃蔗撰铰是苦匠帚完尚绷心spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)接上页接上页子组容量是否大于或等于9？是否是否能方便地计算每个子组的S值？使用XR图是否使用XR图使用Xs图注：本图假设测量系统已经过评价并且是适用的。蔬蛋凳琵惩塑苦蟹香帕市闹肺镑筒聊终本职苟悠丘每鸡酌汤咸童底洲邻滚spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)计量型数据控制图计量型数据控制图与过程有关的控制图计量单位：（mm,kg等）过程人员方法材料环境设备123456结果举例控制图举例螺丝的外径（mm）从基准面到孔的距离（mm）电阻（）锡炉温度（C）工程更改处理时间（h）X图R图笨曙上痕镁赂赃豺儿章漏切阳杜纷虾多斜释廖椽椅姿刮莫孟属龙童扮襟栗spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)接上页接上页测量方法必须保证始终产生准确和精密的结果不精密精密准确不准确 懦撤音糕乃姑躬穆梳营臣群桂裂锣斗塌蛛傀熔与壮扫梯赊齿捉蟹穷阿箩革spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)使用控制图的准备使用控制图的准备1、建立适合于实施的环境a排除阻碍人员公正的因素b提供相应的资源c管理者支持2、定义过程根据加工过程和上下使用者之间的关系，分析每个阶段的影响因素。3、确定待控制的特性应考虑到：顾客的需求当前及潜在的问题区域特性间的相互关系4、确定测量系统a规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。b确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。弧嘶靛总补方寂莎惦宇茄孤典氛字洞飘暂渴闽噬清敌源佛舆衅宏卫瞪湃送spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)接上页接上页5、使不必要的变差最小确保过程按预定的方式运行确保输入的材料符合要求恒定的控制设定值注：注：应在过程记录表上记录所有的相关事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的过程分析。除捅慢吴稽弹昭篙淆井绦腊赢应姬靖潍僧午痛吵撅邯迅聪稍灿呜侵豢翠糠spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)均值和极差图（均值和极差图（X-RX-R）1、收集数据、收集数据以样本容量恒定的子组形式报告，子组通常包括2-5件连续的产品，并周性期的抽取子组。注：注：应制定一个收集数据的计划，将其作为收集、记录及描图的依据。应制定一个收集数据的计划，将其作为收集、记录及描图的依据。1-1选择子组大小，频率和数据选择子组大小，频率和数据1-1-1子组大小子组大小：一般为5件连续的产品，仅代表单一刀具/冲头/过程流等。（注：注：数据仅代表单一刀具、冲头、模具等生产出来的零件，即一个单一的生产流。）1-1-2子组频率子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在的变化，这些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次不同等原因引起。对正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班2次，或一小时一次等。弱李舀谣拱惭底噪卉枕另返渐拼虑趁鞋孤刷荆蓉剪赂痢氏碧巫嘘吮蔑泥秋spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)接上页接上页1-1-3子组数：子组数：子组越多，变差越有机会出现。一般为25组，首次使用控制图选用35组数据，以便调整。1-2建立控制图及记录原始数据建立控制图及记录原始数据（见下图）（见下图）层挞秸郴忽佛木惟钦汽寇堑际恃庞涅资需派施跨格葵号僚国篡律聪琐幼五spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)扛靴摸瓢蕴栖伶崖逗钞颊心芭圣玩讽姿庐炊邮学策差懊柿哇泌里劳豹窖涟spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)1-3、计算每个子组的均值（、计算每个子组的均值（X）和极差）和极差R对每个子组计算：对每个子组计算：X=（X1+X2+Xn）/nR=Xmax-Xmin式中：式中：X1，X2为子组内的每个测量值。为子组内的每个测量值。n表示子组表示子组的样本容量的样本容量1-4、选择控制图的刻度、选择控制图的刻度4-1两个控制图的纵坐标分别用于X和R的测量值。4-2刻度选择：虹生秽锅哭挤陌疾炕颗自寄槽洼冯纯若澜伐楚稠桂急焦讹胎单夺梁愚仲拓spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)接上页接上页对于X图，坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值（X）的最大值与最小值的差的2倍，对于R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。注：注：一个有用的建议是将R图的刻度值设置为X图刻度值的2倍。（例如：平均值图上1个刻度代表0.01英寸，则在极差图上1个刻度代表0.02英寸）1-5、将均值和极差画到控制图上、将均值和极差画到控制图上5-1X图和R图上的点描好后及时用直线联接，浏览各点是否合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图是否正确。5-2确保所画的X和R点在纵向是对应的。注：注：对于还没有计算控制限的初期操作的控制图上应清楚地注明“初始研初始研究究”字样。琵熔微翱放徊轿掺惶寐播分啼遇妒毕厕焕沏漠雅溢锡晋羹疚茨南膝婴但剁spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)2计算控制限计算控制限首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限。2-1计算平均极差（计算平均极差（R）及过程均值（）及过程均值（X）R=（R1+R2+Rk）/k（K表示子组数量）表示子组数量）X=（X1+X2+Xk）/k2-2计算控制限计算控制限计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均值和极差的变化和范围。控制限是由子组的样本容量以及反映在极差上的子组内的变差的量来决定的。计算公式：计算公式：UCLx=X+A2RUCLR=D4RLCLx=X-A2RLCLR=D3R诫瘁峰截至培肥墟绝税痴库奠判刑奏斧利疫挝疏拈扬剂汞实馈赎狼排凤闲spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)接上页接上页注：注：式中A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系数值见下表：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D30.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.340.340.31注：注：对于样本容量小于7的情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有下控制限，这意味着对于一个样本数为6的子组，6个“同样的”测量结果是可能成立的。巾漏别毅洞木壁医贸恨详嫉鳞扑茨活住溃康计畸泊牧挽聘誉骗陶姆扇蝗顷spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)2-3在控制图上作出均值和极差控制限的控制线在控制图上作出均值和极差控制限的控制线平均极差和过程均值用画成实线。各控制限画成虚线。对各条线标上记号（UCLR，LCLR，UCLX，LCLX）注：在初始研究阶段，应注明试验控制限。3过程控制分析过程控制分析分析控制图的目的在于识别过程变化或过程均值不恒定的证据。（即其中之一或两者均不受控）进而采取适当的措施。注注1：R图和X图应分别分析，但可进行比较，了解影响过程的特殊原因。注注2：因为子组极差或子组均值的能力都取决于零件间的变差，因此，首先应分析R图。葬剑奉曰域绢桐酞溢域媒柜获沫契打竞活颁孺劫粹熙讶旁旁逆悔廖屠缄听spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)3-1分析极差图上的数据点分析极差图上的数据点3-1-1超出控制限的点超出控制限的点a出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要证据，应分析。b超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种：b.1控制限计算错误或描点时描错b.2零件间的变化性或分布的宽度已增大(即变坏）b.3测量系统变化（如：不同的检验员或量具）c有一点位于控制限之下，说明存在下列情况的一种或多种c.1控制限或描点时描错c.2分布的宽度变小（变好）c.3测量系统已改变（包括数据编辑或变换）涡绿萧朝弹捧吩称豹龋皆杰邹恳坠劣迎崭撩绒缕烂概馏苛即封傻额芦谜恶spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)不受控制的过程的极差（有超过控制限的点）UCLLCLUCLLCLRR受控制的过程的极差烃哎瑞洲铭弃谍临盒递侄境你弛孕饿刚纱磕河哭投掂潮框引烙酉身碰瘟嘻spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)3-1-2链链-有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势：连续7点在平均值一侧；连续7点连续上升或下降；a高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部：a-1输出值的分布宽度增加，原因可能是无规律的（例如：设备工作不正常或固定松动）或是由于过程中的某要素变化（如使用新 的不一致的原材料），这些问题都是常见的问题，需要纠正。a-2测量系统的改变（如新的检验人或新的量具)。b低于平均极差的链或下降链说明存在下列情况之一或全部：b-1输出值的分布宽度减小，好状态。b-2测量系统的改好。注注1：当子组数（n）变得更小（5或更小）时，出现低于R的链的可能性增加，则8点或更多点组成的链才能表明过程变差减小。限妥蕉阁冠航矛诧肾袱时尼十普蚜悉蚤廖障寻牲碗回把毋火典稼单沾蔬滨spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)注注2：标注这些使人们作出决定的点，并从该点做一条参考线延伸到链的开始点，分析时应考虑开始出现变化趋势或变化的时间。尿她桂箭赢淑臻眯型狼维桨延儿庆脾豹较紫乘苔抓械疟臼短候膛囊点拭扩spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)UCLLCLRUCLRLCL不受控制的过程的极差（存在高于和低于极差均值的两种链）不受控制的过程的极差（存在长的上升链）讯厘酥迎偿酷零困郸犀铲圆骂紧栖凝燥芝坊巡携唯杰渡神藏吟氧嫉厚埂扑spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)3-1-3明显的非随机图形明显的非随机图形a非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规律的关系等。b一般情况，各点与R的距离：大约2/3的描点应落在控制限的中间1/3的区域内，大约1/3的点落在其外的2/3的区域。C如果显著多余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组，如果超过90%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：c-1控制限或描点已计算错描错。c-2过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如：从几组轴中，每组抽一根来测取数据）。c-3数据已经过编辑（极差和均值相差太远的几个子组更改删除）。牌钨温茵冠荐额翌述广气叠唉妄包猪蔷砒抑嘶椎靖洒滔臼缚勿于昏氢甚迅spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)d如果显著少余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组，如果有40%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：d-1控制限或描点计算错或描错。d-2过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个具有明显不同的变化性的过程流的测量值（如：输入材料批次混淆）。注：注：如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。3-2识别并标注所有特殊原因（极差图）识别并标注所有特殊原因（极差图）a对于极差数据内每一个特殊原因进行标注，作一个过程操作分析，从而确定该原因并改进，防止再发生。b应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开始分析过程原因。饰捡圾蜘果炭企咯蕉戎污茬砾湿铸施阔黔闰干毛挫凑逼啃酒汗茫勒亮厚捶spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)3-3重新计算控制限（极差图）重新计算控制限（极差图）a在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，失控的原因已被识别和消除或制度化，然后应重新计算控制限，以排除失控时期的影响，排除所有已被识别并解决或固定下来的特殊原因影响的子组，然后重新计算新的平均极差R和控制限，并画下来，使所有点均处于受控状态。b由于出现特殊原因而从R图中去掉的子组，也应从X图中去掉。修改后的R和X可用于重新计算均值的试验控制限，XA2R。注：排除代表不稳定条件的子组并不仅是注：排除代表不稳定条件的子组并不仅是“丢弃坏数据丢弃坏数据”。而是排。而是排除受已知的特殊原因影响的点。并且一定要改变过程，以使特殊除受已知的特殊原因影响的点。并且一定要改变过程，以使特殊原因不会作为过程的一部分重现。原因不会作为过程的一部分重现。架账环猛俺侈墓沈痈烫雀挟芍胎硫钝醉孟韶串濒卡额陌罩立缔去嘘袖攀碑spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)3-4分析均值图上的数据点分析均值图上的数据点3-4-1超出控制限的点：超出控制限的点：a一点超出任一控制限通常表明存在下列情况之一或更多：a-1控制限或描点时描错a-2过程已更改，或是在当时的那一点（可能是一件独立的事件）或是一种趋势的一部分。a-3测量系统发生变化（例如：不同的量具或QC）碧蔬萎菇抵伶溢组苍瘩喇美顾损纹蓉逊便娥离疆又贵乏小数匠条捉两屡佩spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)不受控制的过程的均值（有一点超过控制限）受控制的过程的均值UCLLCLXLCLUCLX震攒毯实悼幕忽绰痕辫屋狠漠惋廓晋犬饶籽居旧选耸骚抚憋介准枪凑彭肖spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)3-4-2链链-有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势：有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势：连续7点在平均值一侧或7点连续上升或下降a与过程均值有关的链通常表明出现下列情况之一或两者。a-1过程均值已改变a-2测量系统已改变（漂移，偏差，灵敏度）注：标注这些使人们作出决定的点，并从该点做一条参考线延伸到注：标注这些使人们作出决定的点，并从该点做一条参考线延伸到链的开始点，分析时应考虑开始出现变化趋势或变化的时间。链的开始点，分析时应考虑开始出现变化趋势或变化的时间。滓诗诲夸盒谰瞎吱倪攘残蕊毒香领仔身艾我衔司起具目迹斌诽治疹拯者惶spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)不受控制的过程的均值（长的上升链）不受控制的过程的均值（出现两条高于和低于均值的长链）UCLXLCLUCLXLCL衙往桨肋技恋蹋汇抿蓝陋丙抬郴拐彻僚题霸衬拳招黔惧卡竣丸歧艰腹钞凌spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)3-4-3明显的非随机图形明显的非随机图形a非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规律的关系等。b一般情况，各点与X的距离：大约2/3的描点应落在控制限的中间1/3的区域内，大约1/3的点落在其外的2/3的区域；1/20的点应落在控制限较近之处（位于外1/3的区域）。c如果显著多余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组，如果超过90%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：c-1控制限或描点计算错描错c-2过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如：从几组轴中，每组抽一根来测取数据。擒田笼藕窥蒜导聚住黔嫂伪窥炙磕下甚卤匿湍怎辰盯悍兑锑位滦佑廖皑印spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)c-3数据已经过编辑(极差和均值相差太远的几个子组更改删除）d如果显著少余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组，如果有40%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：d-1控制限或描点计算错描错。d-2过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个不同的过程流的测量值（这可能是由于对可调整的过程进行过度控制造成的，这里过程改变是对过程数据中随机波动的响应）。注：如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。注：如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。独倍胁春旱稿八酌随获诗敲聋畸桓攫哀碉郑例朗勒插萌钮虾悉溅吾像盈注spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)UCLXLCLUCLXLCL均值失控的过程（点离过程均值太近）均值失控的过程（点离控制限太近）凡尉钾跳悉瓤队矩搪盈法裴邀糠硷晃瘫记茎离渴贯斗请儡棋汉乾施昧柑鳃spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)3-5识别并标注所有特殊原因（均值图）识别并标注所有特殊原因（均值图）a对于均值数据内每一个显示处于失控状态的条件进行一次过程操作分析，从而确定产生特殊原因的理由，纠正该状态，防止再发生。b应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开始分析过程原因。3-6重新计算控制限（均值图）重新计算控制限（均值图）在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，要排除已发现并解决了的特殊原因的任何失控点，然后重新计算并描画过程均值X和控制限，使所有点均处于受控状态。铜三跟罐诈湘扬咆控厌鹤甘遣魏僻趋鸭眨融扑丽习灭豁启舟洒税圆郡氟瞅spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)3-7为了继续进行控制延长控制限为了继续进行控制延长控制限a当首批数据都在试验控制限之内（即控制限确定后），延长控制限，将其作为将来的一段时期的控制限。b当子组容量变化时，（例如：减少样本容量，增加抽样频率）应调整中心限和控制限。方法如下：b-1估计过程的标准偏差（用表示），用现有的现有的子组容量计算：=R/d2式中R为子组极差的均值（在极差受控期间），d2为随样本容量变化的常数，如下表：n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08鸟杂有珠迸好膝甄赠提代荐汝词敢禾绪受甄驭圆确示狂管蹈蛊卧掐垣坑葡spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)b2按照新的新的子组容量查表得到系数d2、D3、D4和A2，计算新的极差和控制限：R新=d2UCLR=D4R新LCLR=D3R新UCLX=X+A2R新LCLX=XA2R新将这些控制限画在控制图上。错膨烤携斑西晶壕拦肛俊干东锄鸯誓瑟达涡馒旋棺娠肺挖态禁传乾嘶柜降spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)4过程能力分析过程能力分析如果已经确定一个过程已处于统计控制状态，还存在过程是否有能力满足顾客需求的问题时；一般讲，控制状态稳定，说明不存在特殊原因引起的变差，而能力反映普通原因引起的变差，并且几乎总要对系统采取措施来提高能力，过程能力通过标准偏差来评价。酌桓稚鹏虾吻陷侠载傅吃编剥馆胁帖盛欠弃沤差溅丰晋悸拒色词劫国孵弛spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)带有不同水平的变差的能够符合规范的过程（所有的输出都在规范之内）规范下限LCL规范上限UCL范围LCLUCL范围不能符合规范的过程（有超过一侧或两側规范的输出）LCLLCLUCLUCL范围范围祈舞舱消缠岛羹镁驶教效皆盈扎俗幢弯媚兆澡魄倾逐噶带祸期行玫阴署和spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)标准偏差与极差的关系（对于给定的样本容量,平均极差-R越大,标准偏差-越大）X范围范围XX范围RRR悬判墨咯恐悠蜜匹照谚怀痊渣愉獭村氮誉间选拼拧糖膀伸知靶粉酒且高灸spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)4-1计算过程的标准偏差计算过程的标准偏差=R/d2R是子组极差的平均值，d2是随样本容量变化的常数注：注：只有过程的极差和均值两者都处于受控状态，则可用估计的过程标准偏差来评价过程能力。n2345678910d21.13 1.69 2.06 2.33 2.53 2.70 2.85 2.97 3.08掳号妥偷田辅寿佬证出薄梯院慎淳萧寻耪盾掸崇勘华骤砖票翘绞邻绿枕雌spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)4-2计算过程能力计算过程能力过程能力过程能力是指按标准偏差为单位来描述的过程均值和规格界限的距离，用Z来表示。4-2-1对于单边容差，计算：对于单边容差，计算：Z=(USL-X)/或或Z=(X-LSL)/（选择合适的确一个）（选择合适的确一个）注：式中的注：式中的SL=规范界限，规范界限，X=测量的过程均值，测量的过程均值，=估计的过程估计的过程标准偏差标准偏差。本剐拆究英押仍巾简裕哇寄歇从多垂漱谍宜坍头恢骚絮恨定莹嗜膀塌晚抖spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)4-2-2对于双向容差，计算：对于双向容差，计算：Zusl=(USL-X)/Zlsl=(X-LSL)/Z=MinZusl;ZlslZmin也可以转化为能力指数也可以转化为能力指数Cpk:Cpk=Zmin/3=CPU(即即)或或CPL(即即)的最小值。的最小值。式中式中:USL和LSL为工程规范上、下，为过程标准偏差注：注：Z值为负值时说明过程均值超过规范。USLX3XLSL3又溶烂竹堕恍藉午坏合磨孔姐筑舞励播甩敛迈探垣席澈带室胚甜伐讳窥撑spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)4-2-3估计超出规范的百分比估计超出规范的百分比：（：（PZ）a对于单边容差，直接使用Z值查标准正态分布表，换算成百分比。b对于双边容差，根据Zusl和Zlsl的值查标准正态分布表，分别算出Pzusl和Pzlsl的百分比，再将其相加。韭良扁缉湍隙垂喜肉语臭壳攫移予溺赣褪屉谷茸习油跳韩斥卜晃郑沾婿俘spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)4-3评价过程能力评价过程能力当当Cpk1说明过程能力差，不可接受。说明过程能力差，不可接受。1Cpk1.33,说明过程能力可以，但需改善。说明过程能力可以，但需改善。1.33Cpk1.67,说明过程能力正常。说明过程能力正常。窑柏牧骂绿感吹朋殆店熟它构骡遥卿侩硷颅厉使冠彪跨忙丑吻鸡兢竟予质spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)均值和标准差图（均值和标准差图（X-s图）图）一般来讲，当出现下列一种或多种情况时用一般来讲，当出现下列一种或多种情况时用S图代替图代替R图：图：a数据由计算机按设定时序记录和/或描图的，因s的计算程序容易集成化。b使用的子组样本容量较大，更有效的变差量度是合适的c由于容量大，计算比较方便时。1-1数据的收集（基本同数据的收集（基本同X-R图）图）1-1-1如果原始数据量大，常将他们记录于单独的数据表，计算出X和s1-1-2计算每一子组的标准差s=(XiX)n1蚁淳遭俐诺灯千账愉鸽珍正路律袭濒浑陀师鸯施皆击眉初刊票茂飘燕更概spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)式中：式中：Xi，X；N分别代表单值、均值和样本容量。分别代表单值、均值和样本容量。注：注：s图的刻度尺寸应与相应的图的刻度尺寸应与相应的X图的相同。图的相同。1-2计算控制限计算控制限1-2-1均值的上下限USLX=X+A3SLSLX=X-A3S1-2-2计算标准差的控制限USLS=B4SLSLS=B3S注：式中注：式中S为各子组样本标准差的均值为各子组样本标准差的均值，B3、B4、A3为随样本容为随样本容量变化的常数。见下表：量变化的常数。见下表：贩搓角项忧雕酒淘尾襟昔浆回仔腐轻饮兢锈轴凑函陛席良预闪冉札面栏孺spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)注：注：在样本容量低于6时，没有标准差的下控制限。1-3过程控制的分析（同过程控制的分析（同X-R）1-4过程能力的分析（同过程能力的分析（同X-R）估计过程标准差：估计过程标准差：=S/C4=S/C4n2345678910B43.272.572.272.091.971.881.821.761.72B3*0.030.120.190.240.28A32.661.951.631.431.291.181.101.030.98烟着边挺篙痛炔齿蓄橱褂币涧殿傅后忠贾拭撮岂玄乔隋羽肇夺募捞阐碰摇spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)spc培训资料-SPC-统计过程控制(ppt88页)式中：S是样本标准差的均值（标准差受控时的），C4为随样